Contrôle de l'Aging des Transistors de Puissance : Défis de Fiabilité
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Découvrez un ouvrage essentiel pour les passionnés d'électronique, explorant le comportement des transistors SiC JFET dans des environnements extrêmes.Approche innovante : Méthodologie complète avec tests automatisés pour des résultats fiables.Perspectives prometteuses : Indicateurs de dégradation fiables pour concevoir des systèmes électroniques plus robustes.Format pratique : Dimensions idéales (15.01 x 0.51 x 22 cm) pour une lecture aisée.